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光電硬件
Wavelab Beamfiler 光斑分析儀
Wavelab Beamfiler 光斑分析儀
光斑分析儀可實現(xiàn)激光光斑檢測及測試應(yīng)用，為客戶提供定制光束質(zhì)量分析一體化設(shè)計解決方案，并支持多應(yīng)用開發(fā)。通過光束分析裝置一體化設(shè)計，配套衰減方案設(shè)計，支持實時曝光及增益調(diào)節(jié)。可根據(jù)客戶不同需求進行模塊化定制，適用于工業(yè)激光，光纖通訊、顯示面板、打標焊接、3D打印、半導(dǎo)體，激光傳感等領(lǐng)域。目前已作為成熟產(chǎn)品在市場推廣，性價比高，得到多個行業(yè)的客戶廣泛認同。
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產(chǎn)品特點 1.可選超寬光譜多波長系列產(chǎn)品，覆蓋紫外到長波紅外波長范圍。 2.較寬的光斑直徑測量范圍：光斑直徑范圍可滿足目前市場大部分的光斑產(chǎn)品范圍，部分產(chǎn)品支持更小光斑拓展。 3.光斑分析儀一體化設(shè)計，配套衰減方案設(shè)計：設(shè)備自帶吸收衰減裝置，可檢測到毫瓦級別的激光光斑，可根據(jù)不同功率激光光斑測試需求，提供可選的衰減方案，無需準備其他配件即可快速測量。 4.軟件自主開發(fā)，可提供底層通訊協(xié)議。 5.高性價比，可代替進口激光光束質(zhì)量分析儀，實現(xiàn)激光光斑檢測及測試應(yīng)用。 6.需求定制：可為客戶定制不同需求的光斑分析儀，滿足不同的激光光束直徑、形狀和激光功率測試需求。 |
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光斑分析儀的典型應(yīng)用：場鏡-微納加工設(shè)備光斑監(jiān)測
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