Essent Optics 分光光度計(jì)
PHOTON RT 7512 LWIR
PHOTON RT 7512 LWIR
平視光學(xué)元件在正常和可變?nèi)肷浣窍碌?LWIR 透射和反射測(cè)量。
準(zhǔn)確可靠的光學(xué)鍍膜紅外光譜測(cè)量是當(dāng)今最嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)之一。世界各地的光學(xué)制造商為其平面光學(xué)元件指定了越來(lái)越復(fù)雜的紅外鍍膜,專(zhuān)注于更好地檢測(cè)和識(shí)別遠(yuǎn)距離物體。通常,獲得光學(xué)鍍膜的生產(chǎn)能力遠(yuǎn)遠(yuǎn)領(lǐng)先于現(xiàn)有的質(zhì)量認(rèn)證計(jì)量能力。 PHOTON RT 7512?分光光度計(jì)是一款專(zhuān)為有效應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)而設(shè)計(jì)的獨(dú)特儀器。該儀器可以測(cè)量為 LWIR 設(shè)計(jì)的涂層的透射和反射。PHOTON RT 7512 的一個(gè)無(wú)與倫比的功能是能夠在偏振光下以高達(dá) 60 度的可變?nèi)肷浣沁M(jìn)行自動(dòng)測(cè)量。內(nèi)置功能支持這些重要的測(cè)試,該功能可準(zhǔn)確補(bǔ)償高角度下的光束位移,并確保在短短幾分鐘內(nèi)獲得 S-pol 和 P-pol 結(jié)果。樣品的最大厚度可達(dá)創(chuàng)紀(jì)錄的 40 毫米。 |
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