Wavelab OPTINSPEC 測(cè)量工具
圖像尺寸測(cè)量?jī)x
圖像尺寸測(cè)量?jī)x
OptiNspec-AMF105
AMF105系列圖像尺寸測(cè)量?jī)x采用雙倍率、雙遠(yuǎn)心高分辨率光學(xué)鏡頭和多類(lèi)型機(jī)器視覺(jué)光源補(bǔ)光拍攝,并結(jié)合高精度圖像分析算法,軟件界面簡(jiǎn)潔、設(shè)計(jì)有一件閃測(cè)功能。只需按下啟動(dòng)鍵,儀器即可根據(jù)工件的形狀自動(dòng)定位測(cè)量對(duì)象、匹配模板、測(cè)量評(píng)價(jià)、報(bào)表生成,真正實(shí)現(xiàn)一鍵式快速精準(zhǔn)測(cè)量。 產(chǎn)品特色: 1. 配備大小兩個(gè)視野的工業(yè)遠(yuǎn)心鏡頭,同時(shí)兼顧大尺寸和高精度測(cè)量的需求; 2. 高精度XY位移平臺(tái),重復(fù)定位精度±1um,定位掃描精度高; 3. 高精度對(duì)焦模組,成像更清晰、更穩(wěn)定; 4. 多種光源模式可選,可根據(jù)不同產(chǎn)品選擇最合適的補(bǔ)光方案; 5. 軟件界面操作簡(jiǎn)單,便于員工學(xué)習(xí)與操作;; 6. 可自動(dòng)化批量檢測(cè)(需定制自動(dòng)上下料結(jié)構(gòu)); 7. 可生成測(cè)試報(bào)告,匯總測(cè)試數(shù)據(jù); 8.軟件含有表面缺陷檢測(cè)特色功能,可檢測(cè)毛刺、刀紋等不良缺陷。 |
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